Пітух І.О. Автоматизований портативний ультразвуковий товщиномір

В даному бакалаврському проекті був спроектований ультразвуковий товщиномір, для контролю металевих виробів, головною особливістю якого є можливість синхронізації з мобільними пристроями на базі операційної системи Android.
Перший розділі присвячено було аналізу областей застосування ультразвукових товщиномірів та актуальність їх використання. Була зроблена порівняльна характеристика найпопулярніших в наш час товщиномірів за фізичним принципом вимірювання, а саме ультразвуковий та вихрострумовий. Також розглянуті різні методи ультразвукової товщинометрії, їх аналіз дав можливість підібрати ультразвуковий метод вимірювання товщини для проектованого приладу. Розглянуто технічні характеристики вже існуючих приладів із можливістю синхронізації, та обґрунтована її актуальність.
У другому розділі обґрунтована структура акустичного тракту для проектованого приладу і його особливостей, після чого був розрахований коефіцієнт акустичного тракту. Розрахунки дозволили синтезувати структурну схему приладу, та виконати підбір його компонентів.

Керівник:  к.т.н. Богдан Г.А.

Повний текст проєкту (.pdf)

Повний перелік дипломних проєктів та робіт

Список використаної літератури   

1. Галаган Р.М. Теоретичні основи ультразвукового неруйнівного контролю: підручник / Р.М. Галаган. – Київ: КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – 263 с
2. Petryk V.F., Protasov A.G., Galagan R.M., Muraviov A.V., Lysenko I.I. Smartphone-Based Automated Non-Destructive Testing Devices. Devices and Methods of Measurements. 2020; Vol. 11(4): pp. 272-278.
3. «Основи ультразвукового неруйнівного контролю: Підручник» авторів В.К. Цапенка та Ю.В. Куца
4. Ultrasonic Testing of Materials" by Josef Krautkrämer and Herbert Krautkrämer
5. Nondestructive Testing Handbook, Third Edition: Volume 6, Electromagnetic Testing.
6. Nondestructive Testing Handbook, Third Edition: Volume 7, Ultrasonic Testing
7. DeFelsko Inspection Instruments [Електронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://www.defelsko.com/positector-utg.
8. Cygnus 4+ General Purpose Brochure [Електронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://cygnus-instruments.com/wp-content/uploads/2023/03/Cygnus-4-High-Temp-Probe.pdf
9. User Guide Elcometer 456 Coating Thickness Gauge [Електронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://downloads.elcometer.com/PDFs/InstructionManuals/MultiLingual/456_user_guide.pdf.
10. Theory and Application of Precision Ultrasonic Thickness Gaging by Kenneth A. Fowler, Gerry M. Elfbaum, and Thomas J. Nelligan
11. CD4047 Datasheet [Елкетронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-pdf/view/26874/TI/CD4047.html
12. LM555 Datasheet [Елкетронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-pdf/view/53587/FAIRCHILD/LM555.html
13. AD8302 Datasheet [Елкетронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-pdf/view/48435/AD/AD8302.html
14. AD603 Datasheet [Елкетронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-pdf/view/48080/AD/AD603.html
15. Mainstream Performance line, Arm Cortex-M3 MCU with 64 Kbytes of Flash memory, 72 MHz CPU, motor control, USB and CAN [Електроний ресурс] – режим доступу до ресурсу: https://www.st.com/en/microcontrollers-microprocessors/stm32f103c8.htmlhttps://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-pdf/view/26874/TI/CD4047.html
16. MCP4725 Datasheet [Елкетронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-pdf/view/233449/MICROCHIP/MCP4725.html
17. CD4051B Datasheet [Елкетронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-pdf/view/26876/TI/CD4051B.html
18. HC-05 Datasheet [Електронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://components101.com/sites/default/files/component_datasheet/HC-05%20Datasheet.pdf
19. LCD 1602 Datasheet [Електронний ресурс] – Режим доступу до ресурсу: https://www.waveshare.com/datasheet/LCD_en_PDF/LCD1602.pdf
20. Баженов В.Г. Електроніка. Лабораторний практикум: навчальний посібник / В. Г. Баженов, Є. Ф. Суслов, Ю. Ю. Лисенко, А.С. Момот; КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ: КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – 70 с.
21. Куц Ю.В. Спеціальні розділи математики. Курс лекцій: навчальний посібник / Ю. В. Куц, Ю. Ю. Лисенко; КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ: КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – 180 с.
22. Статистичні методи визначення залежностей між випадковими величинами: навчальний посібник / Ю. В. Куц, Ю. Ю. Лисенко; КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ: КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – 115 с.
23. I. Lysenko, V. Uchanin, V. Petryk, Y. Kuts, A. Protasov and A. Alexiev, "Intelligent Automated Eddy Current System for Monitoring the Aircraft Structure Condition," 2022 IEEE 3rd International Conference on System Analysis & Intelligent Computing (SAIC), Kyiv, Ukraine, 2022, pp. 1-5, doi: 10.1109/SAIC57818.2022.9922968.
24. Мікропроцесорна техніка: лабораторний практикум. Частина 1. [Електронний ресурс] / А. С. Момот; КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ: КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – 113 с.
25. Мікропроцесорна техніка: лабораторний практикум. Частина 2. [Електронний ресурс] / А. С. Момот; КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021. – 76 с.
26. Протасов, А. Г. Технології теплового неруйнівного контролю / А. Г. Протасов, Ю. Ю. Лисенко; КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021. – 133 с.

АСНК КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021